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CSW-DIC3230A微分干涉相衬显微镜
CSW-DIC3230A微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置,具有图像立体感且清晰、造型美观,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
性能特点
采用优良的无限远光学系统,可提供卓越的光学性能。
紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。
符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。
内置式可切换偏光观察装置,起偏器可360°旋转。
微分干涉相衬观察时图像清晰,干涉色均匀,具有较强的浮雕感。
标准配置:光学放大倍数:50倍-600倍,数字放大倍数:400倍-4800倍。

标准配置

选配件

脚注信息
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